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產(chǎn)品名稱： 多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)

發(fā)布日期： 2024-04-23

訪問量： 1723

多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。可對應檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學系，輕便?小型，實驗室標配。實現(xiàn)標準1分鐘高速測量。

多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)

利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。

可對應檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學系，輕便•小型，實驗室標配。實現(xiàn)標準1分鐘高速測量。

<strong>多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)</strong>nanoSAQLA(圖1)

特點

只需一臺，輕松實現(xiàn)5檢體連續(xù)測量

低濃度到高濃度都可對應

高速測量，標準時間1分鐘

搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)

內置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物

搭載溫度梯度功能

測量范圍

粒徑 0.6nm～10μm

濃度范圍 0.00001～40％

溫度范圍 0～90℃*

多檢體納米粒徑量測系統(tǒng) 產(chǎn)品規(guī)格

型號	多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng)
測量原理	動態(tài)光散射法
光源	高出力半導體激光*1
檢出器	高感光度APD
連續(xù)測量	5檢體
測量范圍	0.6nm ～ 10μm
對應濃度	0.00001 ～ 40% *2
溫度	0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3
規(guī)格	遵照 ISO 22412：2017
	遵照JIS Z 8828：2013
	遵照JIS Z 8826：2005
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
重量	約18 kg
軟件	平均粒徑解析（累積法解析）
	粒度分布解析
	（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法）粒度分布疊寫逆相關函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍（0.1 ～ 106 nm）分子量計算功能

1 根據(jù)激光安全基準（JIS C6802）級別區(qū)分，本儀器的安全級別為1級。
2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
3 標準glass cell的批量測量的情況。

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